Chip123 科技應用創新平台
標題:
NI 2017 年自動化測試展望 完整報告
[打印本頁]
作者:
SophieWeng@G
時間:
2017-2-23 02:16 PM
標題:
NI 2017 年自動化測試展望 完整報告
NI 創辦人 Dr. James Truchard 反思過去 40 年來的測試與量測經驗、指出影響現在測試團隊的市場與技術趨勢,並發表對未來的展望。分享給大家
9 M; n7 S" h1 d; W* I5 G, @3 [, P
9 A" j- c, f5 Q+ j+ J
完整報告:
https://drive.google.com/file/d/0B7yZMZoIrxFXWUlZTV9zeVFIUkE/view?usp=sharing
x) {, l( [6 S) o* D$ i9 r
3 A2 Q4 p4 @9 I/ S
$ q! [# C7 Z5 k$ {4 B' t) O$ _
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)
Powered by Discuz! X3.2