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標題: 低電壓數位音訊元器件的測試難點與技巧？ [打印本頁]

作者: globe0968 時間: 2013-7-9 10:53 AM
標題: 低電壓數位音訊元器件的測試難點與技巧？
發展趨勢：現代的設備功能越來越強大，速度更快，體積更小，更節能和更低的成本。這意味著，與傳統的5V邏輯電平的半導體器件相比，現代的低電壓器件具有更小的尺寸，更小的幾何尺寸反過來又驅使器件必須工作在更低的工作電壓，一些先進器件的工作電壓已經可以低於1V，或更低。

技術難點：由於不同器件可能工作於不同的電壓，這些低電壓器件與其它電壓器件一同工作時，可能導致介面邏輯電平相容性問題，從而造成測量誤差和誤判。當測試數位音訊器件介面時，固定邏輯電平的測試儀器會受到其本身的限制，並可能需要外接邏輯電平轉換器才能完成特定測量。

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