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標題: 3/14 精密電性量測技術成果發表會(免費) [打印本頁]

作者: sophiew 時間: 2013-2-27 02:14 PM
標題: 3/14 精密電性量測技術成果發表會(免費)
電性量測在產業發展始終扮演著極其重要的角色，例如：生產自動化控制、產品檢測及規格驗證等，各種有關的電性參數都藉著電子儀器的量測功能，而達到量測或驗證的目的。當今主流產業，如半導體、光電、電子製造、微機電、醫療等，產業的量測需求，不斷朝向精確及微小量而邁進。近年來各式無線電產品的應用迅速普及，成為現代生活不可或缺的一部分，然而這類產品所發射的電磁波，會干擾儀器或是影響人體健康，因此其強度受到相關標準的規範與要求。

工研院量測中心電量研究室長期執行精密電子量測技術，對精密電子儀器之校正及其軟、硬體設計開發具備多年研發經驗，舉凡訊號源、精密電壓及電流量測、阻抗量測、功率量測、電流源、電壓源、電阻、電容、電磁波、數位電路等，對於電子儀器及模組所需之各種功能電路皆能提供研發服務。

本發表會針對業界常使用的電量量測，包含電壓、電流、電阻、電容、電感與功率各項參數，與產業同業分享電性精密量測技術，藉以共同提升我國產業電性量測技術能力。

●上課日期：2013年3月14日(星期四) 13:30～16:30
●主辦單位：工研院量測技術發展中心、台灣區電機電子工業同業公會
●上課地點：台灣區電機電子工業同業公會（台北市內湖區民權東路六段109號7樓）
●費用：免費 (業界廠商優先參加，同公司以2人為限，額滿截止)
●報名方式：TEEMA網站線上報名http://www.teema.org.tw/education.aspx?infoid=6587。

作者: sophiew 時間: 2013-2-27 02:14 PM

時間	主題	主持人/主講人
13:30~14:00	報到
14:00~14:10	致詞	工研院量測中心標準組組長藍玉屏博士
14:10~14:30	平板顯示器能耗特性量測技術	量測中心電量研究室研究員陳士芳博士
14:30~14:50	精密電子儀器/模組設計與開發技術	量測中心電量研究室研究員許俊明
14:50~15:10	電性(阻抗、電壓、電流)量測設備與系統開發技術	量測中心電量研究室研究員許俊明
15:10~15:30	休息/交流時間
15:30~15:50	電磁波量測技術與檢測設備開發技術	量測中心電量研究室研究員薛文崇
15:50~16:10	低磁場量測技術與檢測設備開發技術	量測中心電量研究室研究員蕭仁明
16:10~16:30	Ｑ＆Ａ

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