Chip123 科技應用創新平台
標題:
NI 十合一 RF 綜合測試技術應用研討會，一次解決所有高頻量測問題
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作者:
sophiew
時間:
2012-7-5 03:11 PM
標題:
NI 十合一 RF 綜合測試技術應用研討會，一次解決所有高頻量測問題
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(20120705 13:41:27)三十多年來，NI 持續深耕軟體定義測試系統，以軟體與硬體完美整合的架構，在無線射頻領域提供綜合高頻測試系統，協助解決生產測試所遇到的各種問題。而伴隨著無線通訊規格不斷的向前邁進，在產品測試端隨之而來的是與日俱增的壓力及工作量，所有業界從業人員皆在尋求一個完整、簡單、輕鬆提升生產力的解決方案！
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此次研討會現場， NI 與合作的晶片廠商攜手展示整合後的實際成果，包括如何應用於無線網路 802.11 a/b/g/n/ac 與手機 GSM/WCDMA/LTE 的校正與測試。同時，我們也邀請業界最具整合經驗的合作夥伴分享相關經驗，含括了無線網路產品測試系統的建置，以及利用機械手臂、射頻隔離箱建構測試系統。
作者:
sophiew
時間:
2012-7-5 03:11 PM
而 NI 更準備了無線網路產品量測，與手機校正與量測等 RF 解決方案，和業界精英一同共享建構綜合測試系統的概念與趨勢！從改善成本昂貴的高頻測試儀器著手，重新定義高頻量測的規則！NI 邀請您一起參與此次活動，共同提升工作上的生產效率、降低設備成本支出，達到快速、彈性、精確的 RF/無線測試。
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【活動場次】
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2012/7/25 (三) 台北國泰金融中心 A廳
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【報名方式】
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凡報名出席本活動，將有機會獲得 Creative ZiiSOUND D5 藍芽無線喇叭！
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● 電話報名 ： 02-2377-2222 #5555
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