Chip123 科技應用創新平台
標題:
4/12 新竹 NI 新興半導體測試技術研討會
[打印本頁]
作者:
amatom
時間:
2012-3-20 05:45 PM
標題:
4/12 新竹 NI 新興半導體測試技術研討會
根據經濟部統計，2011年半導體產值已超過 1.5 兆台幣，加上新製程及 IC 技術不斷推進，半導體廠商每年需投入高達10% 的總體營收在設備上，伴隨著 2012 年近期景氣愈趨明朗，產線滿載的情形下，「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求，這些無疑都是即將要面臨的挑戰。
/ Z$ D; Y8 N! J4 o* ]: b
( g8 Z( O- P3 Y3 w. g
若將產品的測試流程放大來看， R&D進行 EVT、DVT，進而再交由產線進行PVT，若 R&D 和產線使用的測試設備不同，除了增加實質的測試成本，也增加了雙方溝通的時間成本；一般統計若 R&D 與測試端採用相同的測試設備，將可縮減一半的資金成本，且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。
) V0 {* b0 [( m' X' R$ R
, L5 h- O2 k, O/ S5 q- f: F
為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間，美商國家儀器 (National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統，讓 R&D 端與產線端可以使用相同的測試系統，以大幅減少測試成本，並藉由PXI平台同步測試的優勢來提昇測試速度，同時分享如何用 PXI 平台進行多種無線通訊協定的混合測試。
& N7 Y( k% G* g7 w9 v: w+ E) F' D9 l6 j
% Z! [5 q; }; M }5 ^7 p$ I
此次研討會，將於2012年4月10日於新竹科技生活館舉辦，歡迎各界相關專業人士一同與會，和NI一起體驗 PXI 所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。
( c4 u. A$ |- i
5 W8 n4 D9 i& ]* [& |
活動相關報名方法如下，歡迎大家踴躍報名！
/ w: O" ^5 v% o% a- Y. n+ ~
( Q2 Q4 Y) [5 p9 Z, w( X- b
【活動報名方法】
% p0 q5 Z. H. s
活動地點：新竹科技生活館2F愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路 1號)
- N# S* L) F" A% `1 _& k4 t
活動日期：2012.4.10 (二) 09:00 ~ 16:50
, c2 b* @5 t8 v3 t( F
電話報名 : 02-2377- 2222 # 5555
! u* M( z9 |9 y
網路報名：
http://ni.ehosting.com.tw/events ... digitimes/edm02.asp
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)
Powered by Discuz! X3.2