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標題: 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班 [打印本頁]
作者: itricollege    時間: 2011-12-2 01:52 PM
標題: 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班
●主辦單位：工研院新竹學習中心
) e& u/ w  \0 b/ h1 U- X●舉辦日期：100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00，共2天
) y* @! z8 ?! g4 ?" r. V# A4 [# E5 I●舉辦地點：新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) 5 x) E' M) K  k3 y3 X" r
●課程費用：5,000(含稅)   J* l, s. W! }# D
●報名截止日期：100/12/01(四)
) ]+ b4 j( A- x7 g* G4 B●開班人數：10人以上 (最低開班人數)
0 y% U2 R) i! a* Z+ h●退費標準：如未達開班人數，則學員自費金額無息退還；課程開始當天不得以任何因素要求退費。 ) `. n9 v% F; l) B  U0 I: b
●報名方式： 線上報名：請上產業學院學習服務網
& r" a  n5 ]# C5 q4 s: @# W5 Q4 B% F& o: n. S) y7 j
■課程目標
5 t- t9 [8 m4 x) U
! e9 c' i: ^. w8 X1 K3 i) m本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字，一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間，分析上千筆的專利，歸納出主要競爭者的佈局重點，找出本身專利的價值點，讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受，並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
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■課程大綱% e8 B* q  Z% s7 o- L( n
第一天：12/08(四)9:00~16:00 & c. i- i" }' b- |2 [( F  p
專利檢索入門與檢索規畫
6 F/ x3 V9 T2 D免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲) ) ]' b" b3 B. K% v3 I3 y
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 $ ?" @. V, f5 t
  ]) b& z# g; _0 W8 {9 V
第二天：12/09(五) 9:00~16:00
0 n# b$ f1 w; b8 D$ x專利分析可提供之情報
% o# P' f% z8 v2 ~專利地圖試做範例 9 `. e. x. _1 `- }9 O2 G
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定1 u  a- O0 a( |9 Y; a
＊主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
作者: itricollege    時間: 2011-12-2 01:52 PM
■講師介紹+ p% d$ T( }( j7 i" {* h" E$ ]
吳俊逸 博士3 s0 j2 h) h' `* m- ?! M
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面，提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢，協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。 * p$ N. Y7 Y9 h9 V. M" g$ V
現任：繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
, @9 F7 X! a& R7 P! O/ N+ K學歷：國立清華大學工業工程與工程管理 博士
% P7 s; X4 o  s) h6 P& ^國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
% @$ @6 X; A  ]5 B* `1 k8 V
) E. U* {9 n9 N9 _. y專長與經驗： 7 h- @( b7 `8 \
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
, ^" Z) |) A1 q, ^; H6 u' f! F 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
  {' O, ^. N  I. L: u- W 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
& P$ r  [) A; ]+ Z 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
. [2 G; b/ L7 F2 g# @5 y( k
( z( g9 _% D* I4 Z經歷： 2 C! f# z& _8 |+ E5 z+ F
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工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 + Z5 {1 M* |! z' A9 a5 a2 T
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
* s& b* v7 g4 u4 T7 i7 `/ s/ j國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎，輔導志聖工業股份有限公司
作者: globe0968    時間: 2012-6-20 09:28 AM
標題: 資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」
(20120619 17:48:37)在知識經濟時代，以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢，同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器！專利地圖分析的目的，不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢，更重要的是能激發創新發想，試圖發掘可以改進的技術方向，作為公司的技術策略規劃的依據；此外，更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
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為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才，資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」，邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務，並結合業界案例研究，為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
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8 P& W; ^. B' h3 }6 _' A9 H, K本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm，或電(02)6631-6533林小姐，6/29前報名即享特惠價。, e+ T2 g5 p, b0 b5 a
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訊息來源：財團法人資訊工業策進會



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