DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會 | 通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會 |
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。
% e" q8 u# W+ }7 [. c X | 隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。( R; }! Q- i1 ~* V( _
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08:30-09:00" D6 D% E) B6 @4 g. p0 d1 }6 L
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09:00-10:00
& y- V5 u3 M J2 L | DDR1/2/3的電氣特性規格要求
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| 速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰% a/ P6 X" y! B. W5 ?& F* {
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| DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧) t7 ^( j# y7 z( D/ O
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$ i" @+ e8 n6 J* s2 a; X0 a/ D+ c | USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程! S- B1 L9 x& S: f4 B2 [: c- t
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| Break & Product Fair
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| 如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程
. ?0 L0 e2 ], z6 P6 p | 15:20-16:30( o% `! S5 B$ [- a& {/ A
| USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題; v9 i/ ^6 ~' [2 B
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12:00-13:00
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