Chip123 科技應用創新平台
標題:
9/21～22 全方位泛歐數位無線電話(DECT)整合測試研討會
[打印本頁]
作者:
globe0968
時間:
2011-9-11 04:54 PM
標題:
9/21～22 全方位泛歐數位無線電話(DECT)整合測試研討會
無線射頻通訊技術不斷的演進，使得原本具有彈性與方面性的無線電話的使用更為普及，在工作與生活中儼然成為一項不可或缺的工具。而DECT技術的演進也從語音的傳遞延伸至低耗(DECT ULE)的各種應用，例如用於資料傳輸的Home Gateway設備等。面對此市場的成長需求、生產成本考量、低耗綠能環保及相關技術應用推陳出新的挑戰，成為目前各個數位無線電話生產廠商重要的因應課題。
, r0 l1 M5 U* X( V7 Y- z
8 f4 c& F0 j2 r' q1 C5 p H
歐洲著名儀器設備研發製造廠商RTX公司，除了積極參與DECT Forum制定相關規範外，也不斷的研發生產出能整合DECT/DECT6.0/CAT-iq無線電話產線生產的測試平台--RTX2011。此測試平台具備有可支援DECT、DECT6.0以及CAT-iq的技術相關產品。筑波科技(ACE)與RTX公司共同攜手舉辦目前業界最先進的無線電話整合系統測試研討會，當天的議程內容精彩豐富，從市場面、晶片供應商，以及生產製造整合方案都有專家分享與介紹。竭誠歡迎從事無線電話研發、生產製造等相關無線電話測試應用有興趣的RD/PL/PE/PM業界先進報名參加。
# J+ B% J0 U" P0 ^" T% G% a+ ]
& W' t9 t" R- C# m+ }: B. U* e i7 ~
主要議程：
$ N, q2 F! _! `* c
Excellence of Wireless Production Test with ATE System
) |9 F, o* V5 E1 G6 i
DECT Technology & Market Trend
; f$ A* v7 j5 @4 b) A4 f8 K6 K
DECT Chips & Application Overview
7 b5 |9 H! G0 R- O/ D
DECT Test Solution & Live Demo
$ T, v# Y! M% s; }/ U; G
Smart ATE – RTX2300 Overview
6 ]2 ^- B. y+ X2 u7 a) n
! w9 J+ W9 z5 \& S' x
日期地點:
" _: R# ]3 ~! E( i/ [
9/21 (三) 新竹-竹北台元科技園區 筑波科技會議廳
7 G) p# ?; l, [; a7 y# b
9/22 (四) 台北-台大集思會議中心 柏拉圖廳
. z+ p' h- O4 e- Y6 T/ P
活動時間：PM13:00~PM17:00
6 M5 |+ g6 @. p+ T! X Y1 N
線上報名：
http://www.acesolution.com.tw
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)
Powered by Discuz! X3.2