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標題: 7/20 新竹2011 LED 先進測試技術研討會 [打印本頁]

作者: tk02376    時間: 2011-7-8 12:16 PM
標題: 7/20 新竹2011 LED 先進測試技術研討會
2011 LED 先進測試技術研討會

活動日期: 2011.7.20 (三) 13:10~16:40

活動地點: 新竹 科技生活館 203 室

 

隨著 LED 的發展與技術越來越成熟,其應用領域也已經遍及背光模組與照明市場,根據LEDinside資料顯示,今年 LED 液晶電視機背光模組的滲透率可達 40 ~ 50 % ,預估 LED 的市場需求將成倍數成長,如何提高產能降低測試成本已經成為當前主要的課題,本研討會將為您介紹最新 PXI 技術如何應用於 LED 光電多點測試,以達到 LED 最佳測試效能

 

美商國家儀器順英科技推出完整的 LED 多點測試系統,不論是電學或光學特性的量測,均可提供完整的測試規畫,協助您完整建立 LED 生產線測試系統。

活動焦點:  


 
 
 

活動議程:

*大會保有修改議程之權利






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