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標題: 7/12, 14 LTE市場趨勢與測試應用研討會 [打印本頁]

作者: tk02561    時間: 2011-7-4 10:37 AM
標題: 7/12, 14 LTE市場趨勢與測試應用研討會
時間:新竹場次: 2011 年7月12日(週二) 台北場次: 2011 年7月14日(週四)% S0 ]+ D' Z( j$ K
地點:新竹場次: 科技生活館 201會議室  台北場次: 集思台大會議中心 蘇格拉底廳  e- i8 ]: i( Q, x5 P
主辦單位:安立知股份有限公司、台灣區電機電子工業同業公會
8 }, J( k3 x3 @參加費用:免費% _. M. }$ k& J! V1 z
本研討會提供:精美課程講義、精緻餐點,會後將進行抽獎活動。/ ?3 E1 x. r  C
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簡介:# T! [' _) Q4 Q
長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲,是最被看好的行動通訊系統,在3G與4G技術的世代交替之際,正是群雄競逐商機的最佳時機。
; p. z6 o/ e$ ^5 t8 Q$ M& hLTE量測設備領導品牌- 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求,在LTE FDD/TDD上皆推出從RF到Protocol最穩定的解決方案,而承襲MD8470A新品MD8475A訊令測試儀,將首次在台灣亮相;想知道LTE測試是可以多麼簡單容易上手嗎?安立知竭誠邀請您報名參加,每場次僅限120位貴賓,欲報從速!
9 P2 j# j' q# R' w+ K: S4 t報名方式:線上報名:http://tinyurl.com/4xy6kal
作者: tk02561    時間: 2011-7-4 10:38 AM
本帖最後由 tk02561 於 2011-7-4 10:39 AM 編輯
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時 間
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主 題 4 S: J% d; A7 H/ `. _) z
講 師
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13:10~13:20
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報到
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13:20~13:30 7 {/ ?( c$ b9 E8 F( S( R
開場
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13:30~14:00
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LTE Requirements for GCF and PTCRB
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15:30~16:10
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LTE連網展示- MD8475A , _* y' a7 S* e9 D
薛伊良 Petrushka Hsueh + K* p  |' F& q3 {& u/ c3 b# Y! t0 P
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LTE FDD/TDD射頻量測與自動化測試
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台灣安立知9 X: x' B  G+ g; n' ~
技術副理
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16:40~17:00 ! V, l. b1 q' B" v- u+ @8 q
LTE Calibration overview + u1 r7 r1 c$ Q. a
台灣安立知7 Z/ x* v( ]. e4 |# S. i( v
軟體工程師
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17:00~ ! ~: n" Q' ^5 I: c9 E5 A
Q&A及抽獎活動
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*主辦單位保留活動議程更動權利,若有變更將另行通知。
7 Y. h) z3 ?* a; [*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等,將以氣象局公告為基準,取消或延後本次研討會。




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