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標題:
關於雜訊(noise)的量測以及相減
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作者:
st80069
時間:
2011-4-15 07:04 AM
標題:
關於雜訊(noise)的量測以及相減
最近正著手有關雜訊的量測，並且作SNR圖~所以在spec美觀上有很大的要求
7 _6 X7 R' Q7 O" z- A( v6 z+ @
小弟量測的雜訊為temperal noise，所以對時間取256的值，
! v! l3 a' j" F- x* f2 k& r$ V0 `
然後把這些值分別在excel上做standard deviation(SD)即是noise，以及平均(mean)，將SD/mean就成為SNR了~
$ D' n5 K2 s7 M, x
但是....
& @& Y8 M( y' I: V/ c1 n; b/ P
小弟有個疑問
" K0 @) R1 w1 L6 Q9 ?1 c4 o/ t
當我把chip上的訊號源頭以switch給off掉，輸出的部分可以視作為一個穩定篇壓輸入的Source follower的輸出~
/ z' T' g* ?- N8 W; n
此時量出的noise不小。
" _* F- t+ D7 P! [; A, N2 o
0 q7 f5 q7 H2 D' i! A
所以問題來了，
+ S! V) I1 U; _* q$ |9 ]2 C2 t
我認為這是PCB板上的noise以及power noise造成的，所以想以數學公式的方法將之扣掉
* w6 }7 U3 O+ Y8 P: E8 b. R
步驟是
$ n! q; h$ ~% }' `. |/ @
1.量出有輸入訊號的的SD1，再量沒輸入訊號的SD2
$ h1 h' [" x7 e3 H' h1 f) U8 N
2.平方相減開根號→srt(SD1^2-SD2^2)
* Z% `; o0 v' t/ k7 ]
3.得到我認為純的SD(noise)
, m5 a& j/ p2 S/ R
. l; [; W. X, n. `
聽起來好像很順利...不過我發現，有些值 平方相減 後，已經變成負的了....
, B+ k+ N0 P) ~7 X, C
# e- d! O5 W0 M. c
所以想請問各位神人，有沒有相關的雜訊經驗或者對雜訊的感想???
; x" ~+ x; ?! V% S' r3 `
任何建議分享都會有助小弟突破瓶頸~(磕頭)
作者:
DennyT
時間:
2011-4-18 03:02 PM
雜訊的實際量測可能的話, 通常希望能將待測物 (或待測電路) 的輸出放大,
l( z" J) \3 Q7 A- r+ m: w" Z
放大後的底噪減去量測系統噪音後再除放大倍率還原是比較穩定的量測方式.
8 m6 I1 U/ c+ w' g- M& y' _. y
E; k% }+ N: c* ~ `
若系統特性無法實現上述作法, 第二招便是waveform average,
$ f. `4 i! T) V1 R U1 Y4 m
將抓到的信號波形累加平均後再進行運算, 會有必較穩定的結果,
$ @, c: U7 n# Z
但是需要注意的是時域波形的平均會壓低thermal/ random noise,
) m# \ e' G( ~
如果能對FFT後的spectrum 各自進行平均後再互減便可以排除上述缺點.
作者:
st80069
時間:
2011-4-25 04:56 AM
FFT後的spectrum，然後平均互減......哎呀~對FFT不熟，恩...我去查查書~
作者:
st80069
時間:
2011-4-25 04:57 AM
FFT後的spectrum，然後平均互減......哎呀~對FFT不熟，恩...我去查查書~謝謝Denny大~~
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