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標題: 4/19~20 新竹、台北 Tektronix 創新論壇 [打印本頁]

作者: jcase    時間: 2011-4-7 10:47 AM
標題: 4/19~20 新竹、台北 Tektronix 創新論壇
Tektronix 創新論壇推動數位時代中的創新! x/ s% X7 [+ H0 R

, P  H7 Z$ L& q. J• 新竹場次 • 4月19日 (週二) — 新竹國賓大飯店,10F, I: L% O$ I8 z) l, ~
• 台北場次 • 4月20日 (週三) — 台北君悅酒店,3F Ball Room + _/ o6 H' F+ O' a6 B
時間與城市: # P9 N. L8 ]/ E' m5 p" Z' b

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. H3 D/ h& P' z8 `: h" I創新技術的加速發展及其在高速串列,嵌入式設計和 RF等領域的廣泛應用,要求您結合最好的設計工具和最穩定可靠的測試方案,以便按時製造出最優秀的產品。太克2011年春季創新論壇,首次提出安排了資深的國內外測試專家親臨現場,為從事工業設計研發和政府教育研發的工程師和工程管理人員,介紹涵蓋高速串列標準測試的最新測試解決方案。
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: Z+ Z% |' z0 f& n0 V5 l 免費課程,立即註冊參加
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作者: jcase    時間: 2011-4-7 10:49 AM
時間TrackA 課程主講人
12:30 - 13:00報到時間
13:00 - 14:15A1. 如何加快您的 USB 3.0 相容性測試(從Transmiter 到Receiver 到Protocol 的完整解決方案)Sarah Boen/Fred Frastgar
14:15 - 14:50A2. 搶先知道熱門SATA 3.1 修訂版規格和 12G SAS 特性分析基礎知識Sarah Boen
14:50 - 15:10Tea Break
15:10 - 16:20A3.深入瞭解 PCI Express Gen 3 解決方案:考量 PCIe 邏輯及電路層問題的除錯和疑難排除及規範更新Balaji Iyer /Sarah Boen
16:20 - 16:40與專家對談 & 幸運抽獎
時間TrackB 課程主講人
12:30 - 13:00報到時間
13:00 - 13:45B1. 新一代超高速光電訊號標準量測最新知識David Yang
13:45 - 14:30B2. 如何為 TFT- LCD 面板訊號進行量測及除錯Eric Shen
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