Chip123 科技應用創新平台

標題: 11~12月 蔚華科技系列數位量測研討會: 解決待測系統訊號完整性問題 [打印本頁]

作者: amatom    時間: 2010-11-23 02:33 PM
標題: 11~12月 蔚華科技系列數位量測研討會: 解決待測系統訊號完整性問題
本帖最後由 amatom 於 2010-11-23 02:37 PM 編輯 ' b% f! k" S9 W- Z0 p  ^4 g
# R6 k, z, x! C
11月30日2 E; k! U  X' d
主題如何將高頻數位示波器的原理應用在設計及除錯的工作上!
日期11月30日
時間9:30 AM ~ 4:00 PM
地點新竹市水源街95號10樓 ( 蔚華大樓)
費用免費 (名額有限, 敬早報名, 現場敬備茶點及中餐)
3 r6 I$ m9 {9 Q+ b% V
12月09日
; Y$ H# V7 I* f- x0 e3 E4 H2 y
主題如何將高頻數位示波器的原理應用在設計及除錯的工作上!
日期11月30日
時間9:30 AM ~ 4:00 PM
地點新竹市水源街95號10樓 ( 蔚華大樓)
費用免費 (名額有限, 敬早報名, 現場敬備茶點及中餐)

0 P. w* Y2 U6 a& W- S; g. ^* m: T0 O& m& }+ n
12月14日
主題量測高速電路阻抗的變化,解決待測系統的訊號完整性問題
日期12月14日
時間9:30 AM ~ 4:00 PM
地點新竹市水源街95號10樓 ( 蔚華大樓)
費用免費 (名額有限, 敬早報名, 現場敬備茶點及中餐)
) x: |. L) r: m. J8 g# D
下載邀請函立即報名參加





歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/) Powered by Discuz! X3.2