Chip123 科技應用創新平台
標題:
5/17 儀器中心「EMI／EMC實務解決分析研討會」
[打印本頁]
作者:
heavy91
時間:
2010-5-6 08:25 AM
標題:
5/17 儀器中心「EMI／EMC實務解決分析研討會」
【新竹訊】國研院儀科中心規劃在5月17日舉辦「EMI／EMC實務解決分析研討會」，介紹研發人員最常面臨的EMI／EMC問題與解決技術。
" A" M/ z V; K2 Y. _% t! S* s& D
3 G1 p5 }/ q( \
儀科中心表示，目前世界各國對於電子產品皆有EMI／EMC的規範要求，因此產品不論是銷售到國內或國外，皆必須要先符合相關的EMC規格才能販售，如何有效的降低電子產品的EMI雜訊，已是研發工程人員必須面臨的問題。
2 c2 }7 a1 U( K8 a* W3 t# e$ C) ^
) p5 o' p6 Z" O: S& ?' j* ]5 U
研討會將以深入淺出的方式講解EMC的產生原理與機制， 並經由實務案例的分析說明，使學員在短時間內快速掌握EMI／EMC的對策技巧與解決方法，並進而提高電子產品在EMC的設計觀念與能力，邀請財團法人台灣電子檢驗中心經理姚啟元擔任講師；歡迎電子公司研發、工程技術人員，與學術研究單位專業人員，及理工學院研究生參加，現在報名享有優惠價。
6 x4 h3 J1 I+ \3 k6 V0 v, [
2 W5 F4 q/ U4 c; m& }( m
儀科中心（03）577-9911轉分機313，網址：
www.itrc.org.tw
。
作者:
heavy91
時間:
2010-5-14 10:13 AM
EMI／EMC分析研討會 開課
! M' p% N" G/ ]7 v
2 P; @% ^% |1 K8 E
【台北訊】目前世界各國對於電子產品皆有電磁干擾（EMI），與電磁相容性（EMC）的規範要求，因此產品不論是銷售到國內或國外，皆必須要先符合相關的EMC規格才能販售，如何有效的降低電子產品的EMI雜訊，已是研發工程人員必須面臨的問題。
0 N( w1 T/ p( ^4 [
3 T& X' |8 d# A* E1 y/ a ?
儀科研究中心規劃在5月17日舉辦「EMI／EMC實務解決分析研討會」，介紹研發人員最常面臨的EMI／EMC問題與解決技術，以深入淺出的方式講解EMC的產生原理與機制，並經由實務案例的分析說明，可使得學員在短時間內快速掌握EMI/EMC的對策技巧與解決方法，並進而提高電子產品在EMC的設計觀念與能力。
* s' C9 L+ N C
9 y! _- X Q9 H
研討會特別邀請財團法人台灣電子檢驗中心姚啟元經理擔任講師，歡迎電子公司研發與工程技術人員與學術研究單位專業人員，及理工學院研究生參加，即日起報名享有優惠價。研討會資訊請洽（03）5 77-9911分機313，網址：
www.itrc.org.tw
。
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)
Powered by Discuz! X3.2