Chip123 科技應用創新平台
標題:
4/1 安捷倫【新技術助您更快速和簡化FPGA測試和除錯】
[打印本頁]
作者:
atitizz
時間:
2010-3-18 04:30 PM
標題:
4/1 安捷倫【新技術助您更快速和簡化FPGA測試和除錯】
知識饗宴 空中相會 歡迎參加 4月1日 10:00 - 11:30AM 安捷倫科技中文網路研討會
5 Z/ I) V0 k9 a K
5 d6 U% e3 ~! t4 u
安捷倫科技誠摯邀請您參加將於2010年4月1日上午10:00-11:30舉行的中文網路研討會，主題為“新技術助您更快速和簡化FPGA測試和除錯”。
* \4 {; O; c% ?
! F5 G, Z( s0 N: A5 I( ~
FPGA晶片已成為數位設計中的核心元件。而Infiniium和InfiniiVision系列示波器正好是為除錯和量測FPGA而設計的，這些合適的工具對於類比、數位和新協議的分析都擁有優越的能力。這個研討會將介紹一些採用Xilinx FPGA的設計的量測例子。
4 F% Y R* ^9 D% N* |
; h) h+ h+ W4 W! i( I
以下介紹是研討會有關FPGA設計和除錯方面的內容：
a X- e/ u/ w6 ^: ?
9 U! [$ m0 g8 ^" @8 H+ \
1. 關於安捷倫測試和量測設備如何應用FPGA和ASIC技術的例子。
/ O/ E( @3 ]$ b$ {6 o5 G: ]% s
2. 利用混合信號示波器和核心除錯技術的基礎，以便快速量測（以秒計的) 內部信號新組合，但卻沒有停止FPGA的運作或改變裝置的時間。
- \7 X! `8 `( ?$ }5 M
3. 在30秒內設定示波器，以便觸發和解碼在FPGA和周邊晶片之間的串行通信匯流排。將會介紹的例子包括I²C、RS-232、SPI、USB和PCIe™。
- ~. D* K# r7 h
4. 對高速串列訊號傳輸的特性。
8 P: |. r4 ]( ?6 {1 [7 Z
$ y* J" U8 D7 \$ F: s
歡迎上網報名，免費參加研討會。如果與會學員希望在網路研討會舉行前提問，請在填寫登記表時把問題事先發送給安捷倫。在參加研討會後填交回函表的與會者將可參加幸運抽獎，贏取iPod nano一部。
& |: b- ?! f0 G# [
; s* x) y/ D) z& B" ]1 A
不要錯過與安捷倫科技專家即時交流的機會!
; z: E$ L9 I( `/ g0 H. R
報名網址：
http://www.eeplace.com/agilent/e ... IL&eventid=1683
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)
Powered by Discuz! X3.2