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標題:
STARC與Atrenta就EDA工具品質管制體系展開合作
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作者:
jiming
時間:
2010-1-29 08:45 AM
標題:
STARC與Atrenta就EDA工具品質管制體系展開合作
(20100128 15:00:34)日本橫濱--(美國商業資訊)--日本半導體技術學術研究中心（簡稱STARC）與Atrenta Inc.今天宣佈，雙方合作開發一種電子設計自動化 (EDA) 工具品質管制體系。該系統基於STARC提供的品質評價資料庫，並且拓展了對Atrenta的SpyGlass暫存器傳輸級 (RTL) 平台正在進行的品質監測。
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作為此次合作的一部分，STARC為Atrenta提供了迴歸測試規格和大量的設計測試案例。Atrenta隨後將這些測試整合進他們的SpyGlass平台迴歸測試套件，從而可實現對各版本SpyGlass平台的品質和生產備即性的詳細測試。Atrenta會為STARC提供一份品質評估報告，其中包括迴歸測試結果、發現的漏洞類型，以及在目標版本之前建置的解決方案。
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STARC副總裁兼總經理Nobuyuki Nishiguchi表示：「在過去一年半的時間裡，我們一直與Atrenta合作實施這項計畫。SpyGlass系列的產品品質使得我們能夠取得顯著進步。透過此次合作，STARC能夠更輕鬆地為我們的企業客戶提供領先的前端設計方法。我們的企業客戶如今能夠非常有效地部署新版SpyGlass。」
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Atrenta行銷部副總裁Mike Gianfagna表示：「品質資料庫是實施改良品質程序的一種有效方法，因為它獲得了STARC所有客戶的授權，並且基於現實設計問題而開發。透過客戶測試案例存取計畫（CTAP），我們不斷改進我們的軟體迴歸套件，而此次與STARC的合作是一次重要的補充。透過此次合作，我們可以加快向推進Early Design Closure的STARC客戶推出優質產品。」
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Atrenta與STARC打算將該計畫拓展至其他產品系列，以推動產品品質的持續改善，並為STARC成員企業降低採用和部署成本。
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關於STARC
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日本半導體技術學術研究中心 (STARC) 是由日本主要半導體公司於1995年12月共同設立的一個研究聯盟。其使命是透過開發領先的系統單晶片 (SoC) 設計技術來推動日本半導體產業的發展。欲瞭解詳情，請瀏覽：
http://www.starc.jp/index-e.html
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關於Atrenta
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Atrenta是領先的Early Design Closure解決方案供應商，這些解決方案可透過積體電路設計流程從根本上提高設計效率。客戶可以透過Atrenta工具和方法來表達設計意圖、探索各種建置選項、驗證RTL以及在早期對設計進行最佳化，從而可以避免昂貴且耗時的複雜建置。該公司擁有150多位客戶，其中包括全球最頂尖的10大半導體公司。Atrenta為Early Design Closure提供業界最全面的解決方案。垂詢詳情，請瀏覽
www.atrenta.com
。Atrenta，從一開始就這樣！（Atrenta, Right from the Start!）
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