EN 55022/ CISPR 22 法規更新說明研討會暨模組/IC 之EMC 問題與發展趨勢探討 |
在複雜的電磁雜訊環境下,電磁相容性測試在電子產品的研發製造過程中格外重要,除了是藉由通過驗證以取得產品的品質保證外,背後更隱含提昇國家整體競爭力的意義。尤其,近年來由於IC 製程技術之快速演進,電路設計之複雜度及電子線路之密集度也相對提升,這些高度整合的系統及元件,彼此間產生的雜訊干擾即有可能影響到產品的傳輸性能。這些因科技的進步而衍生的許多相關問題,使得系統晶片(將射頻、類比電路、數位電路等電路,整合至單一顆系統晶片(SoC))在整合實現時,將更加困難,而亟待解決。 R&S 落實深耕專業品牌形象,本次研討會將請R&S總公司EMI及訊號分析量測事業部產品經理Mr. Volker Janssen 針對最新 EN55022/ CISPR 22 的法規更新,如 CISPR-AVG及RMS-AV...等進行說明,亦將於會中介紹目前符合最新CISPR 16-1-1 規範的EMI 測試接收儀及相關量測方式。除此,由於EMC 的注意焦點已不再僅存於設備與設備之間,系統內模組與模組間的干擾及相容性問題更開始為業界所重視,為因應此一趨勢,R&S 特別邀請逢甲大學通訊系林漢年博士,針對目前高速數位電路設計下模組與IC 的EMC 問題,及其相關測試未來的發展方向與重點,為所有與會者進行一深入的剖析與探討. |
課程代碼 | RSTWS092209 | ||||||||
日 期 | 2009/9/22 (星期二) ~ 2009/9/22 (星期二) | ||||||||
時 間 | From:08:30 To :16:30 | ||||||||
地 點 | 台大醫院國際會議中心(台北市中正區徐州路2號4樓402AB教室) | ||||||||
費 用 | 免費 | ||||||||
名 額 | 150人,名額有限,額滿為止 | ||||||||
講師介紹 |
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注意事項 | 上課時請將行動電話關機或調整為靜音模式哦~ |
2009/9/22 (星期二) | |||
Time | Subject | ||
08:40~09:10 |
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09:10~09:20 |
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09:20~10:00 |
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10:00~10:30 |
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10:30~11:00 |
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11:00~12:00 |
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12:00~12:30 |
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12:30~13:50 |
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13:50~14:50 |
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14:50~15:20 |
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15:20~16:20 |
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16:20~16:30 |
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