Chip123 科技應用創新平台
標題:
How to go Measuring and Simulating non-linear devices?
[打印本頁]
作者:
chip123
時間:
2009-3-10 05:03 AM
標題:
How to go Measuring and Simulating non-linear devices?
Speaker: Agilent Component Test Division Yoshiyuki Yanagimoto 柳本吉之
46p
# `' r/ D: Q: j6 a
; V, o+ ~7 w; ~: t& x$ G* R+ U
Agenda 議程
1 p, [6 C, w, b& D$ g: y# ~
• Overview 概要
& N5 g5 \$ {6 v% A+ v
• Introduction of NVNA 介紹NVNA
# b( ?! R! z; F7 F, f, x
• Harmonic measurements 諧波量測
# a- b5 d3 y& h" @
• X-parameters X参数
1 M: N9 _& `( Y
/ h2 T4 A' `5 u+ l( Z/ K1 {/ M: X5 f
正確表現金字塔、必要三次元資訊 有三次元資訊、易作成二次元圖面?
4 \# o* E# h( n- r
欲完整描述非線性放大器、只用S参数和部份的非線性參數是不夠的?
& w5 `5 `3 z( G9 d/ \4 g3 o- a% Z
作者:
skygardon
時間:
2009-3-10 09:18 PM
Agilent開發出的新功能,看起來真的很厲害,下載來了解一下,呵呵!
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)
Powered by Discuz! X3.2