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標題: 關於I/O pad [打印本頁]
作者: miyusheu    時間: 2007-11-6 05:23 PM
標題: 關於I/O pad
請問以前受限於ESD I/O PAD
2 \9 I$ G) x+ i3 ?( F1 P4 \( o量高速PLL輸出常需要除頻後量測~
% l; O) f  g; l不太懂現在TX打出來的data rate都是數Gbps以上) C& x  K# l, S; Z  _& ?4 h
那該如何量測呢?
7 w- V9 w6 V- P, j# ^9 h* {0 c還是現在的封裝都很進步了 @@' M% O, z9 X$ d* _/ B2 i
能請前輩解惑嗎?
3 N. j1 M, E- ^謝謝^^
作者: DennyT    時間: 2007-11-6 10:20 PM
是有可以上3.65Gbps or 6.4Gbps的serial I/F專用測試儀器或ATE (Semicon tester). * B  \$ ~, n2 X4 Z# _" j" s' X
只是暴力上的代價不菲罷了.9 Z. s  w5 }9 f) {% a

6 _( N; t6 V8 P200MHz以下的儀器或ATE都很便宜, 這也是大家能除則除的原因.- r* }7 v! `3 X) s1 i5 n
高速Tx or Rx很多公司都是用loop back test在量產, 板子上搞個relay灌回去就好了,
1 X& a/ b( c' H5 U+ W: a1小時5000塊台幣 跟 1小時1000塊台幣的量產測試成本差很多的...9 E6 P7 h) G. s4 b0 N6 F
一個月出貨1 million 就差台幣5百多萬了.; F0 E/ t; f7 |
3 E) g$ i0 a. [! W
[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-6 10:21 PM 編輯 ]



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