11/26起 Rohde & Schwarz Technology Week - Chip123 科技應用創新平台

Rohde & Schwarz Technology Week 2007-Taipei


	Rohde & Schwarz 深知高效能的量測工具是協助您邁向成功之路的最佳利器，超過70年的集團經驗，R&S以堅實的基礎及創新的技術在專業領域上立於領導地位。在台灣，R&S掌握產業脈動，滿足顧客需求，堅持提供顧客最佳解決方案與實現核心技術的承諾。 2006年11月26, 27 及 29日，R&S誠摯地邀請您參加 Technology Week 技術饗宴，我們將率先為您介紹各式最新量測解決方案，歡迎您一同共襄盛舉 !

課程代碼	TK2007A
日　　期	2007/11/26 (星期一)
時　　間	From:08:30 To :17:00
地　　點	台北喜來登大飯店B2 (台北市忠孝東路一段12號 )
費　　用	免費
名　　額	400人，名額有限，額滿為止
活動對象	電信相關產業人士、通訊、手機產業、相關領域研發團體、政府及學術單位人員。

2007/11/26 (星期一)

Time

無線寬頻vs行動電視技術

新一代行動通訊標準

元件量測基本營

08:30~09:00

報到

09:00~10:10

A1-行動WiMAX 新焦點 : 802.16e wave2的測試規範
Mr. Heinz Mellein

B1-3G進化論 I : HSPA之技術探討及量測解決方案
Mr. Guenter Pfeifer

C1-WiFi產品之OTA量測技術
Ms. Nellie Pang

10:10~10:30

Tea Break

10:30~11:00

Demo Tour

11:00~12:10

A2-MIMO技術於新一代無線寛頻系統之應用
Mr. Heinz Mellein

B2-3G進化論 II : LTE於3GPP的發展趨勢及原理探討
蔡文璋 Jerry Tsai

C2-藍牙(v2.0+EDR) SIG 驗證系統之量測應用
邀請中

12:10~13:00

Lunch

13:00~13:30

Demo Tour

13:30~14:40

A3-全球行動電視發展現況剖析及測試規範深入探討
嚴可為 Edmund Yen

B3-固網與行動通訊聯手-非授權行動接取(UMA)技術的應用及解決方案
林志龍 Stone Lin

C3-電路達人：RF微波電路開發及其模擬設計軟體
李道根 Douglas Lee

14:40~15:00

Tea Break

15:00~15:30

Demo Tour

15:30~16:40

A4-多樣化數位電視標準下之量測設備選擇技巧
Mr. Peter Lampel

B4-載台雜訊(Platform Noise)對無線通訊環境的影響
蔡遙明 Frank Tsai

C4-網路分析技術大突破：非線性平衡元件之真實差動模式量測
郭志耀 CheeYaw Kuek

16:40~17:00

問卷回收 / Demo Tour 集點抽奬兌換